การกำจัดการปนเปื้อนแบบผีและการตกค้างของหน่วยความจำ (B, Ti, Zr) ในรอบการทำความสะอาดด้วยการย่อยด้วยไมโครเวฟ
ในการวิเคราะห์อนินทรีย์ระดับร่องรอยและระดับอัลตร้าร่องรอยด้วย ICP-MS และ ICP-OES การบรรลุขีดจำกัดการตรวจวัดวิธี (MDL) ระดับต่ำกว่า ppb และ ppt ที่สามารถป้องกันได้นั้น ขึ้นอยู่กับความสะอาดของภาชนะบรรจุทั้งหมด นักวิเคราะห์ที่วิเคราะห์ตัวอย่างธรณีวิทยาที่มีเมทริกซ์สูง โลหะผสมสำหรับอากาศยาน หรือ
สร้างใน 09.24