Устранение призрачного загрязнения и эффектов памяти (B, Ti, Zr) в циклах очистки микроволнового разложения
При следовом и ультраследовом неорганическом анализе с использованием ICP-MS и ICP-OES достижение обоснованных пределов обнаружения на уровне ниже ppb и ppt полностью зависит от чистоты посуды. Аналитики, работающие с геологическими образцами с высокой матрицей, аэрокосмическими сплавами или
Создано 09.24, Последнее обновление 09.24, Опубликовано 09.24